Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques
Revue de Statistique Appliquée (1983)
- Volume: 31, Issue: 2, page 19-42
- ISSN: 0035-175X
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topRingler, J.. "Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques." Revue de Statistique Appliquée 31.2 (1983): 19-42. <http://eudml.org/doc/106147>.
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TY - JOUR
AU - Ringler, J.
TI - Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques
JO - Revue de Statistique Appliquée
PY - 1983
PB - Société de Statistique de France
VL - 31
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SP - 19
EP - 42
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ER -
References
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