Algorithmes EM et SEM pour un mélange censuré de distributions de défaillances. Application à la fiabilité d'équipements électroniques en période de jeunesse

Didier Chauveau

Revue de Statistique Appliquée (1992)

  • Volume: 40, Issue: 2, page 67-76
  • ISSN: 0035-175X

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Chauveau, Didier. "Algorithmes EM et SEM pour un mélange censuré de distributions de défaillances. Application à la fiabilité d'équipements électroniques en période de jeunesse." Revue de Statistique Appliquée 40.2 (1992): 67-76. <http://eudml.org/doc/106313>.

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JO - Revue de Statistique Appliquée
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