Ein Näherungsverfahren zur Berechnung optimaler Pläne für messende Prüfung bei bekannten Kosten und bekannter Verteilung der Schlechtanteile in den vorgelegten Liefermengen

K. Stange

Metrika (1966)

  • Volume: 10, page 92-136
  • ISSN: 0026-1335; 1435-926X/e

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Stange, K.. "Ein Näherungsverfahren zur Berechnung optimaler Pläne für messende Prüfung bei bekannten Kosten und bekannter Verteilung der Schlechtanteile in den vorgelegten Liefermengen." Metrika 10 (1966): 92-136. <http://eudml.org/doc/175290>.

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