Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques

J. C. Ligeron; R. Goarin

Revue de Statistique Appliquée (1974)

  • Volume: 22, Issue: 3, page 43-67
  • ISSN: 0035-175X

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Ligeron, J. C., and Goarin, R.. "Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques." Revue de Statistique Appliquée 22.3 (1974): 43-67. <http://eudml.org/doc/105981>.

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JO - Revue de Statistique Appliquée
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ER -

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