Determination of the lifetime distribution of the components from the autopsy in additive, series-parallel and parallel-series binary systems.

Mallor Giménez, Fermín, Azcárate Camio, Cristina, and Pérez Prados, Antonio. "Cálculo de la distribución del tiempo de vida de componentes mediante autopsia en sistemas binarios aditivos, serie-paralelo y paralelo-serie.." Qüestiió 21.1-2 (1997): 177-199. <http://eudml.org/doc/40189>.

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abstract = {En este artículo se estudia el problema de determinar la función de distribución del tiempo de vida de las componentes de un sistema binario, a partir del conocimiento de las leyes que rigen el funcionamiento del sistema y del conjunto de componentes que causa su fallo (obtenida mediante autopsia del sistema en el momento de su deterioro).Se presentan los resultados de Meilijson (1981) y Nowik (1990) que proponen un sistema de ecuaciones implícito para obtener estas distribuciones. Sin embargo, se observa que este sistema es de muy difícil resolución práctica, por lo que nosotros consideraremos un método cuya utilización es más restringida pero más sencilla, y estudiaremos su aplicación a sistemas binarios aditivos, serie-paralelo y paralelo-serie.},
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TY - JOUR
AU - Mallor Giménez, Fermín
AU - Azcárate Camio, Cristina
AU - Pérez Prados, Antonio
TI - Cálculo de la distribución del tiempo de vida de componentes mediante autopsia en sistemas binarios aditivos, serie-paralelo y paralelo-serie.
JO - Qüestiió
PY - 1997
VL - 21
IS - 1-2
SP - 177
EP - 199
AB - En este artículo se estudia el problema de determinar la función de distribución del tiempo de vida de las componentes de un sistema binario, a partir del conocimiento de las leyes que rigen el funcionamiento del sistema y del conjunto de componentes que causa su fallo (obtenida mediante autopsia del sistema en el momento de su deterioro).Se presentan los resultados de Meilijson (1981) y Nowik (1990) que proponen un sistema de ecuaciones implícito para obtener estas distribuciones. Sin embargo, se observa que este sistema es de muy difícil resolución práctica, por lo que nosotros consideraremos un método cuya utilización es más restringida pero más sencilla, y estudiaremos su aplicación a sistemas binarios aditivos, serie-paralelo y paralelo-serie.
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KW - Fiabilidad; Análisis de componentes; Análisis de sistemas; Análisis de riesgos; Tiempo de vida
UR - http://eudml.org/doc/40189
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